• Όργανα και συσκευές ορυκτολογικών και χημικών αναλύσεων:
    • Συστήματα περιθλασιμετρίας ακτίνων-Χ.
    • Πολωτικό μικροσκόπιο για διερχόμενο και ανακλώμενο φως.
    • Συσκευή διαφορικής θερμικής ανάλυσης (DTA) για θερμοκρασίες έως 1600oC.
    • Ηλεκτρονική συσκευή προσδιορισμού κοκκομετρικής κατανομής (Sedimentograph) δειγμάτων ιζημάτων, εδαφών κά.
    • Συσκευές για κλασματικό διαχωρισμό των κόκκων ιζημάτων, εδαφών κά.
    • Καταμετρητής ραδιενεργού ακτινοβολίας β.
    • Διάφορες συσκευές θραύσης, λειοτρίβησης και εν γένει προπαρασκευής δειγμάτων υλικών για ορυκτολογικές αναλύσεις.
  • Όργανα και συσκευές προσδιορισμού φυσικοχημικών και τεχνολογικών ιδιοτήτων βιομηχανικών ορυκτών και πετρωμάτων καθώς και δομικών κεραμικών:
    • Ηλεκτρονικό μικροσκληρόμετρο για μέτρηση σκληρότητας κατά VICKERS και κατά KNOOP.
    • Θερμαινόμενο μικροσκόπιο οριζοντίου άξονα (έως 1700oC).
    • Κλίβανοι προγραμματιζόμενης θερμοκρασίας έως και 1600oC.
    • Συσκευή μέτρησης αντοχής σε κάμψη σε δοκίμια κεραμικών μαζών, κεραμικών προϊόντων κά.
    • Συσκευή μέτρησης πλαστικότητας αργίλων.
    • Συσκευή μέτρησης του ιξώδους αργιλικών πολφών και αιωρημάτων κά.
    • Συσκευές και διατάξεις προσδιορισμού του ειδικού βάρους και της φαινόμενης πυκνότητας ορυκτών πρώτων υλών.
    • Μετρητής απόξεσης.
    • Εξωθητής κενού (για αργιλομάζες).
    • Συσκευή προσδιορισμού λειοτριβησιμότητας γαιανθράκων.
© Σχολή Μηχανικών Ορυκτών Πόρων 2013