Εξοπλισμός
- Όργανα και συσκευές ορυκτολογικών και χημικών αναλύσεων:
- Συστήματα περιθλασιμετρίας ακτίνων-Χ.
- Πολωτικό μικροσκόπιο για διερχόμενο και ανακλώμενο φως.
- Συσκευή διαφορικής θερμικής ανάλυσης (DTA) για θερμοκρασίες έως 1600oC.
- Ηλεκτρονική συσκευή προσδιορισμού κοκκομετρικής κατανομής (Sedimentograph) δειγμάτων ιζημάτων, εδαφών κά.
- Συσκευές για κλασματικό διαχωρισμό των κόκκων ιζημάτων, εδαφών κά.
- Καταμετρητής ραδιενεργού ακτινοβολίας β.
- Διάφορες συσκευές θραύσης, λειοτρίβησης και εν γένει προπαρασκευής δειγμάτων υλικών για ορυκτολογικές αναλύσεις.
- Όργανα και συσκευές προσδιορισμού φυσικοχημικών και τεχνολογικών ιδιοτήτων βιομηχανικών ορυκτών και πετρωμάτων καθώς και δομικών κεραμικών:
- Ηλεκτρονικό μικροσκληρόμετρο για μέτρηση σκληρότητας κατά VICKERS και κατά KNOOP.
- Θερμαινόμενο μικροσκόπιο οριζοντίου άξονα (έως 1700oC).
- Κλίβανοι προγραμματιζόμενης θερμοκρασίας έως και 1600oC.
- Συσκευή μέτρησης αντοχής σε κάμψη σε δοκίμια κεραμικών μαζών, κεραμικών προϊόντων κά.
- Συσκευή μέτρησης πλαστικότητας αργίλων.
- Συσκευή μέτρησης του ιξώδους αργιλικών πολφών και αιωρημάτων κά.
- Συσκευές και διατάξεις προσδιορισμού του ειδικού βάρους και της φαινόμενης πυκνότητας ορυκτών πρώτων υλών.
- Μετρητής απόξεσης.
- Εξωθητής κενού (για αργιλομάζες).
- Συσκευή προσδιορισμού λειοτριβησιμότητας γαιανθράκων.
